詞條
詞條說(shuō)明
隨著成像系統(tǒng)科技的不斷發(fā)展,粒度粒形分析儀得到了廣泛的應(yīng)用,從固體粉末藥物API原料藥粒度測(cè)試,到半固體乳膏液滴粒徑測(cè)試,擠出劑粒度大小的測(cè)定,再到葉片病斑面積的情況測(cè)試,粒度粒形分析儀在醫(yī)藥、**、鋰電、涂料、過(guò)濾行業(yè)、機(jī)械加工、農(nóng)業(yè)等各個(gè)行業(yè)的使用,無(wú)不證明在今天粒度粒形分析儀在科技發(fā)展中占據(jù)了一席之地。 粒度粒形分析儀根據(jù)其所采用的硬件可以分為顯微鏡法、掃描法、相機(jī)拍照法。本文主要介紹的是
透皮乳膏粒度分析儀之利丙雙卡因(恩納)Emla乳膏粒度分布檢測(cè)方法
粒度是各種材料的主要性能指標(biāo),粒度檢測(cè)已經(jīng)成為醫(yī)藥材料生產(chǎn)、應(yīng)用、研究的一項(xiàng)重要的基礎(chǔ)性工作。有關(guān)固體顆粒粉末的粒度測(cè)試文章比較多,接下來(lái)給大家分享一下半固體軟膏的粒度測(cè)試方法。以利丙雙卡因Emla乳膏粒度測(cè)定為例。 常見(jiàn)的粒度檢測(cè)方法有很多,例如:激光粒度儀,動(dòng)態(tài)光散射法、光阻法、圖像法、離心沉降法、庫(kù)爾特法、超聲波法以及篩分法等等。而常規(guī)的粒度我們一般使用激光粒度儀就可以解決了,但是半固體粒度
納米粒度和zeta電位的測(cè)試方法有很多種,粒度可以采用動(dòng)態(tài)光散射原理、超聲波衰減法、電鏡等來(lái)做測(cè)試,zeta電位測(cè)試方法主要有相位分析光散射(PALS)法、電聲法、流動(dòng)電位法、顯微電泳法等。每種方法都有其各自的優(yōu)劣勢(shì)。今天就動(dòng)態(tài)光散射測(cè)試納米粒度和相位分析光散射(PALS)法測(cè)試zeta電位做個(gè)介紹。一、納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域:隨著科技的發(fā)展納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域很
《中國(guó)藥典》不溶性微粒檢查法 梓夢(mèng)科技《中國(guó)藥典》CP0903不溶性微粒檢查法,《中國(guó)藥典》中對(duì)澄清度、不溶性微粒、可見(jiàn)異物的檢查有明確規(guī)定,并且是三個(gè)連續(xù)的章節(jié)。其中不溶性微粒為CP0903章節(jié)。用以檢查靜脈注射劑、溶液型注射劑、注射用無(wú)菌粉末、注射用濃溶液、mRNA疫苗注射劑、靜脈注射劑用無(wú)菌原料藥中不溶性微粒的大小及數(shù)量。《中國(guó)藥典》CP0903規(guī)定兩種檢測(cè)方法,光阻法和顯微鏡計(jì)數(shù)法,藥典中
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