三箱冷熱沖擊試驗機除霜頻率的設定

時間：2023-07-26作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：108

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

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  詞條說明

• 半導體芯片用高低溫濕熱試驗箱介紹

  半導體芯片高低溫濕熱試驗箱（也稱為溫濕度循環(huán)試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等）是一種專門用于對半導體芯片和電子元器件進行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測試的設備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。試驗標準：GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 *42部分：溫濕度貯存主要技術參數(shù)：溫度范圍： -20℃~100℃（150℃）、-40℃~100℃（

• 電子產(chǎn)品高低溫測試檢測項目biao準及方法

  高低溫測試又叫作高低溫循環(huán)測試，是環(huán)境ke靠性測試中的一項，試驗目的是評**低溫條件對裝備在存儲和工作期間的性能影響?；旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲保存，或者工作運行。因為產(chǎn)品在制造、搬運或儲存應用時會面臨著各種各樣不同的溫濕度、氣候以及外界條件的等等影響。這些氣候對產(chǎn)品產(chǎn)生物理性質及機械性質甚到是化學性質的改變，所以會令產(chǎn)品失去效果，降di**或生產(chǎn)危險，因此世jie各guo制定了各

• 為什么高溫烘箱不能在滿載情況下做試驗

  據(jù)標準要求高溫烘箱的工作室容積至少應是被測試產(chǎn)品外廓體積的3～5倍，其理由如下：1、被測試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道，通道變窄將導致氣流流速的增加，加速氣流與被測試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符，因為在有關標準中對涉及溫度環(huán)境試驗都規(guī)定高低溫試驗箱內(nèi)試驗樣件周圍的空氣流速不應**過1.7m/s，以防止試驗樣件和周圍氣氛產(chǎn)生不符合實際的熱傳導，在空載時試驗箱內(nèi)平均風速為0.6～0.8m/

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  近日哈爾濱工業(yè)大學再次向北京宏展儀器有限公司訂購高低溫試驗箱，雙方緊密合作，共筑工程師的搖籃！?哈爾濱工業(yè)大學（Harbin Institute of Technology），簡稱哈工大， 校本部位于黑龍江省哈爾濱市，是由工業(yè)和信息化部直屬的國內(nèi)重dian大學，位列guojia“雙**”、 “985工程”、“211工程”，九校聯(lián)盟? 、環(huán)太平洋大學聯(lián)盟、zhongguo大學校長