詞條
詞條說(shuō)明
以下是冷熱沖擊試驗(yàn)箱維護(hù)保養(yǎng)的方法: 1、操作機(jī)器前應(yīng)先將內(nèi)部雜物清除。 2、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)冷凍系統(tǒng)是試驗(yàn)機(jī)的核心,每年必須巡檢一次所有銅管是否有泄漏雪種情況,各嗽叭接頭及焊接口,如有油漬外泄,3、當(dāng)試驗(yàn)產(chǎn)品時(shí)間到達(dá)后取產(chǎn)品時(shí),必須在關(guān)機(jī)狀態(tài)下且工作人員一定要戴好干燥、防電、耐溫手套進(jìn)行取放產(chǎn)品.4、配電箱內(nèi)的兩個(gè)**溫保護(hù)器設(shè)定值請(qǐng)不要隨便調(diào)試,出廠時(shí)已調(diào)好,此保護(hù)開關(guān)是保護(hù)加熱管和加濕管空焚和缺
深圳市惠富康光通信有限公司選用宏展溫度循環(huán)試驗(yàn)箱!
?深圳市惠富康光通信有限公司選用宏展溫度循環(huán)試驗(yàn)箱! 深圳市惠富康光通信有限公司成立于2001年,現(xiàn)有廠房面積4600多平方米,員工600余人,是國(guó)內(nèi)光模塊用光纖插芯(Fiber stub)、陶瓷套筒(Sleeve)及插芯適配器(Receptacle)的主要生產(chǎn)基地。 ??? 經(jīng)過(guò)多年的生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)鍛煉,我們已經(jīng)成為一支穩(wěn)定的、較富經(jīng)驗(yàn)的、能應(yīng)對(duì)各種挑戰(zhàn)、朝氣蓬
高低溫環(huán)境測(cè)試可以稱為作高低溫循環(huán)測(cè)試,是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試的其中一項(xiàng)。高低溫循環(huán)測(cè)試可以測(cè)試產(chǎn)品在不用高低溫氣候環(huán)境下的可靠性和耐力,目的是用來(lái)制定產(chǎn)品在不同高低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性方法。高低溫循環(huán)測(cè)試根據(jù)測(cè)試樣品不同,適用條件、范圍不同,其測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)也都不一樣。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于試驗(yàn)所用的溫度范圍和持續(xù)暴露的時(shí)間。隨著現(xiàn)代工業(yè)飛速發(fā)展和更新?lián)Q代,環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中的高低溫測(cè)試設(shè)
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件,以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè):1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件:85℃±5℃持續(xù)時(shí)間:1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件:-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間:1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件:-40℃~85℃持續(xù)時(shí)間:200
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