冷熱沖擊試驗箱可用于半導(dǎo)體芯片的測試

時間：2023-03-21作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：190

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

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  詞條說明

• 高低溫試驗箱的工作原理

  高低溫試驗箱是一種用于模擬各種高低溫環(huán)境的實驗設(shè)備，其工作原理主要是通過控制箱體內(nèi)的加熱器和制冷器來調(diào)節(jié)箱內(nèi)的溫度。具體來說，當(dāng)需要升高溫度時，加熱器會將箱內(nèi)空氣加熱，使溫度升高；而當(dāng)需要降低溫度時，制冷器會將箱內(nèi)空氣冷卻，使溫度降低。同時，高低溫試驗箱還可以通過控制濕度調(diào)節(jié)器來控制箱內(nèi)的濕度，以模擬不同的環(huán)境條件。在使用高低溫試驗箱進行實驗時，需要先將待測試的樣品放入試驗箱內(nèi)，并設(shè)置所需的溫度和

• GB/T2423.1低溫試驗步驟

  GB/T2423.1是針對電工電子產(chǎn)品的國標低溫試驗標準，等同于國際標準IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗的步驟如下：1.初步檢測。通過目視檢查和（或）按相關(guān)規(guī)范要求進行功能檢測來獲知試驗樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗。試驗樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時間。如果有試驗樣品不能達到溫度穩(wěn)定的意外情況，整個試驗持續(xù)的時間應(yīng)該從試驗樣品通電時開始計算。通常這種

• 為什么高溫烘箱不能在滿載情況下做試驗

  據(jù)標準要求高溫烘箱的工作室容積至少應(yīng)是被測試產(chǎn)品外廓體積的3～5倍，其理由如下：1、被測試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道，通道變窄將導(dǎo)致氣流流速的增加，加速氣流與被測試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符，因為在有關(guān)標準中對涉及溫度環(huán)境試驗都規(guī)定高低溫試驗箱內(nèi)試驗樣件周圍的空氣流速不應(yīng)**過1.7m/s，以防止試驗樣件和周圍氣氛產(chǎn)生不符合實際的熱傳導(dǎo)，在空載時試驗箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6～0.8m/

• 鹽霧試驗測試的標準是什么

  鹽霧試驗是一種利用鹽霧試驗設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來確認產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗。試驗的嚴苛程度取決于曝露持續(xù)時間。實驗室常用的測試標準：GB/T 2423.17，IEC60068-2-11,GB/T 10125，ISO 9227，ISO4628-3, ASTM B117, JIS-Z2371, JIS-G3141, GJB 150.1, MIL-STD-810F, MIL-ST