PCB上線前的烘烤要求

時間：2023-03-07

作者：廣東宏展科技有限公司

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冷熱沖擊試驗箱的結構簡介
冷熱沖擊試驗箱的結構簡介冷熱沖擊試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。主要用于對產(chǎn)品按照國家*標準要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產(chǎn)品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。冷熱沖擊試驗箱的結構：
快速溫度變化試驗箱 SET-Z-080U-Q
快速溫度變化試驗箱 SET-Z-080U-Q 設備為對應客戶所需求的快速溫度變化試驗而進行特殊設計。合理的結構設計，優(yōu)化的冷凍設計，完善的內部控制**，滿足5度/分鐘，10度/分鐘，15度/分鐘的升降溫要求，較快能夠做到25度/分鐘（請咨詢技術人員）。 ? ? 產(chǎn)品技術參數(shù) 生產(chǎn)廠商廣東宏展科技有限公司產(chǎn)地中國廣東電源 AC380V 3Φ 4W 50Hz 較大電流 1
小型環(huán)境試驗箱
小型環(huán)境試驗箱 ? 研究開發(fā)用較佳伙伴。適用標準：GB/T2423.1 / IEC60068-2-1、GB/T2423.3 / IEC60068-2-78、GB/T2423.4 / IEC60068-2-30、GB/T2423.34 / IEC60068-2-38、JESD22-A100-C、JESD22-A101-C。 ? 輕巧緊湊，機身小容積大占地小體重輕，可2臺疊放
GB/T2423.1低溫試驗步驟
GB/T2423.1是針對電工電子產(chǎn)品的標準低溫試驗標準，等同于**標準IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗的步驟如下：1.初步檢測。通過目視檢查和（或）按相關規(guī)范要求進行功能檢測來獲知試驗樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗。試驗樣品應按相關規(guī)范的詳細規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時間。如果有試驗樣品不能達到溫度穩(wěn)定的意外情況，整個試驗持續(xù)的時間應該從試驗樣品通電時開始計算。通常這種