optodiode探測器問題指南

時(shí)間：2023-03-06作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：192

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• 詞條

  詞條說明

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  Xenics紅外相機(jī)的LWIR長波紅外相機(jī)，基于a-Si非晶硅材料探測器的長波紅外非制冷相機(jī)，包括小型、高性能長波紅外非制冷相機(jī)（遠(yuǎn)紅外相機(jī)）Gobi+ 640系列和緊湊型高分辨率工業(yè)熱成像應(yīng)用的Ceres T系列。a-Si探測器材料是一種新興的半導(dǎo)體薄膜材料，是一種直接能帶半導(dǎo)體，一般除了應(yīng)用在半導(dǎo)體、太陽能電池上，也可用作自計(jì)溫度計(jì)照相機(jī)(Thermal Camera)中的微輻射探測儀(mic

• 率分束器-選型事項(xiàng)

  率分束器是一種特殊的基于多臺階的衍射光學(xué)元件（DOE），能夠以97％的效率將光束分成Double Spot 1×2或Quattro Spot 2×2點(diǎn)，并且?guī)缀鯖]有多余的殘余能量。2019年，以色列Holoor公司正式推出了一系列率激光分束器（high efficiency beam splitter）：兩光束分束器（HEDS 1×2）和2×2光束分束器（Quattro Spot，

• 2022年已更新市場微透鏡陣列型號

  隨著2022年疫情管控的逐步放開，微透鏡陣列的各個(gè)廠商正在逐漸恢復(fù)生產(chǎn)。本文更新了截至2023年1月其他國外大廠的微透鏡陣列型號及規(guī)格參數(shù)，結(jié)合我司微透鏡陣列的標(biāo)準(zhǔn)品型號，有需要者在采購時(shí)可以清晰的對應(yīng)自己需求的參數(shù)。微透鏡陣列，也叫復(fù)眼透鏡，作為我司的主營產(chǎn)品之一，鞏固微透鏡行業(yè)領(lǐng)先地位。不僅常用于激光加工等激光勻化方面的應(yīng)用，也可用于哈特曼傳感器、光場成像等領(lǐng)域。下面列舉各家2022年更新的微

• 光纖光譜儀應(yīng)用在檢測薄膜厚度

  首先介紹一下光的干涉。由于光的波動(dòng)特性，若干列光波在空間相遇時(shí)，互相疊加或互相抵消，引起光強(qiáng)的重新分布，在某些區(qū)域始終加強(qiáng)，在某些區(qū)域始終減弱，從而出現(xiàn)了明暗相間的條紋，這種現(xiàn)象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學(xué)光纖光譜儀，利用干涉效應(yīng)來測量薄膜厚度的原理圖。當(dāng)一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進(jìn)入薄膜發(fā)生折射，折射光經(jīng)膜層下表面反射后，再經(jīng)