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多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析檢測中有哪些優(yōu)勢
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路(Integrated Circuits,IC)的封裝工藝也在不斷演進(jìn),為了確保IC載板和引線框架的性能和可靠性,鍍層測厚及成分分析成為了至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。在這個背景下,多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)正嶄露頭角,以其優(yōu)勢在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析中展現(xiàn)出巨大潛力。?多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)是一種**的分析方法,主要利用X射線全反射原理,從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛
鍍鎳測厚儀是一種用來測量電鍍層厚度的儀器。在選擇不同型號鍍鎳測厚儀時,我們需要注意很多問題。接下來我們就跟著一六儀器一起來具體了解一下:1、測量范圍不同用途的鍍鎳測厚儀測量范圍不同,有些只測量薄層厚度,而有些可以測量較厚的層。在購買時需要根據(jù)自己的需要選擇適合的測量范圍。2、精度精度是衡量鍍鎳測厚儀好壞的重要指標(biāo)之一。一些**的測厚儀精度可以達(dá)到0.05微米,而一些低端的測厚儀只能達(dá)到0.1微米。
全自動多功能XRF分析儀,搭載全自動移動平臺和影像識別功能,既能檢測納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區(qū)RoHS檢測及全元素成分分析。接下來和全自動多功能XRF分析儀優(yōu)勢及應(yīng)用鄰域。全自動多功能XRF分析儀優(yōu)勢:1)搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和**的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),較小測量面積達(dá)0.03mm2;2)擁有無損變焦檢測技術(shù),手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測,凹槽深度范圍
一六儀器生產(chǎn)的XAD系列光譜分析儀有哪些優(yōu)勢?
江蘇一六儀器生產(chǎn)的XAD系列熒光光譜儀是一款上照式全元素光譜儀,可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析,**的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。1. 微小樣品檢測:較小測量面積0.008mm2 ;2. 變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-90mm ;3. *的EFP算法:Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li(3
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機(jī): 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
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