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便攜式VOCs泄漏檢測(cè)儀為何常選PID原理近日,全國各地**針對(duì)**VOCs泄漏探測(cè)器的采購量有了很大的提高。原因是《2020年揮發(fā)性**物治理方案》的制定提到,執(zhí)法設(shè)備水平必須提高,應(yīng)配備幾種攜帶探測(cè)器,包括攜帶探測(cè)器VOCs泄漏探測(cè)器。目前市場(chǎng)上很受歡迎VOCs泄漏檢測(cè)儀主要有兩種原理,一種是PID(光離子)原理,另一個(gè)是FID(氫火苗正離子)原理。但在某些檢測(cè)環(huán)境和環(huán)境下,PID原理的V
ROHS無鹵檢測(cè)儀器的功能優(yōu)勢(shì)有哪些?
ROHS無鹵檢測(cè)儀器是目前**提供體積小、識(shí)別速度快、精度高,對(duì)電子產(chǎn)品、玩具、塑膠、油漆、包裝材料等應(yīng)對(duì)歐盟WEEE有害元素鉛、汞、鉻、鎘、溴的檢測(cè)。該分析檢測(cè)儀不僅縮短了測(cè)試耗時(shí),而且削減了分析費(fèi)用。它可以現(xiàn)場(chǎng)完成有害元素的檢測(cè)和分析。本產(chǎn)品專門設(shè)計(jì)用于提高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和提升業(yè)務(wù)優(yōu)勢(shì)的設(shè)備應(yīng)具備操作簡單的特點(diǎn)。對(duì)任何人而言,深入探究復(fù)雜的用戶培訓(xùn)資源并不實(shí)用。采用擴(kuò)展版平臺(tái),旨在簡化日常分析流程,
1、原理:X射線照射樣品,經(jīng)過鍍層界面,射線返回的信號(hào)發(fā)生突變,根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難(信號(hào)分不開)。2、XRF鍍層測(cè)厚儀:俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍:測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U)。
1)光譜儀的工作原理:spectrometer是火花直讀光譜儀,原理是原子在火花的激發(fā)下躍遷到激發(fā)態(tài)(不穩(wěn)定態(tài)),在回遷的過程中以發(fā)光的形式釋放能量。不同的源自發(fā)出不同波長的光,根據(jù)光強(qiáng)計(jì)算含量。2、標(biāo)樣測(cè)試是為了檢查是否需要校正工作曲線。3、是指對(duì)元素間干擾的校正4)、標(biāo)準(zhǔn)化是指通過標(biāo)樣來校正工作曲線有一定輻射。輻射量的大小與儀器技術(shù)指標(biāo)有關(guān),一般做工越好的輻射量越低。不過話說回來,這個(gè)輻射量很
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