現(xiàn)貨英國(guó)DYNEX晶閘管DCR4060V22 DCR5050B18平板可控硅現(xiàn)貨

時(shí)間：2025-09-11作者：上海聚肯電子科技有限公司瀏覽：423

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

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• 可控硅壞的原因

  1、電壓擊穿可控硅因不能承受電壓而損壞，其芯片中有一個(gè)光潔的小孔，有時(shí)需用擴(kuò)大鏡才能看見(jiàn)。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開(kāi)時(shí)產(chǎn)生的高電壓擊穿。2、電流損壞電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個(gè)凹坑，且粗糙，其位置在遠(yuǎn)離控制較上。3、電流上升率損壞其痕跡與電流損壞相同，而其位置在控制較附近或就在控制較上。4、邊緣損壞他發(fā)生在芯片外圓倒角處，有細(xì)小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有細(xì)細(xì)金屬物劃痕。

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