在氙弧燈老化測試中，如何準(zhǔn)確評估電子電氣產(chǎn)品的電氣性能變化與光學(xué)性能變化之間的關(guān)聯(lián)性？

時間：2025-09-09作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：138

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• 優(yōu)爾鴻信檢測|膠帶 180° 剝離強度試驗的標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

  膠帶 180° 剝離強度試驗的標(biāo)準(zhǔn)主要有以下幾種：GB/T 2792-1998：適用范圍：適用于單、雙面壓敏膠粘帶與不銹鋼板 180° 剝離強度的測定，也可用于與其他材料如 PVC、ABS、PE 等的剝離強度測試。試驗裝置要求：壓輥：用橡膠包覆的直徑（不包括橡膠層）約 84mm，寬度約 45mm 的鋼輪子；包覆橡膠硬度（邵爾 A 型）為 80±5，厚度約 5mm；壓輥的質(zhì)量為 2000g±50g。

• 電子電器產(chǎn)品中的離子殘留對設(shè)備性能和可靠性有何影響？

  電氣性能方面短路風(fēng)險增加：離子殘留中的導(dǎo)電離子，如金屬離子（銅離子、銀離子等），在一定的濕度條件下，會在電子電器產(chǎn)品的電路板等部件上形成導(dǎo)電通路。例如，在印制電路板（PCB）上，當(dāng)離子殘留使相鄰的線路之間的絕緣電阻降低到一定程度時，就可能引發(fā)短路。這會導(dǎo)致設(shè)備突然斷電、功能異常甚至損壞，嚴(yán)重影響設(shè)備的正常運行。信號傳輸干擾：在高頻電路中，離子殘留會改變電路的電容、電感等參數(shù)。因為離子的存在相當(dāng)于在

• 優(yōu)爾鴻信檢測 電子電器產(chǎn)品中鎳釋放量的國際檢測標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

  電子電器產(chǎn)品中鎳釋放量的國際檢測標(biāo)準(zhǔn)主要包括以下幾種：EN 1811:2011+A1:2015 是常見的標(biāo)準(zhǔn)之一。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了與皮膚長期直接接觸的制品中鎳釋放量的測試方法，適用于各種金屬制品，包括電子電器產(chǎn)品中的金屬部件。ISO 12870:2019 也對眼鏡架中鎳釋放量的檢測提供了規(guī)范。雖然主要針對眼鏡架，但其中的一些原則和方法在電子電器產(chǎn)品相關(guān)檢測中也具有一定的參考價值。ASTM F2923

• 如何采用光譜分析法檢測電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力？

  采用光譜分析法檢測電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力，通常可以使用以下步驟：首先，準(zhǔn)備好待檢測的樣品，確保其表面清潔、無損傷和污染物，以獲得準(zhǔn)確的檢測結(jié)果。常用的光譜分析方法如 X 射線熒光光譜法（XRF），利用 X 射線激發(fā)樣品中的原子，產(chǎn)生特征熒光 X 射線。通過測量這些熒光 X 射線的能量和強度，可以確定樣品中元素的種類和含量。對于鎳鍍層厚度的檢測，XRF 能夠根據(jù)鎳元素的特征譜線強度來