詞條
詞條說(shuō)明
溫度循環(huán)試驗(yàn)箱可曝露PCB印刷電路板前期瑕疵隱患
應(yīng)力篩選是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下,運(yùn)用加速技巧外加環(huán)境應(yīng)力,如:預(yù)燒(burn in)、溫度循環(huán)(temperature cycling)、隨機(jī)振動(dòng)(random vibration)、開(kāi)閉循環(huán)(power cycle)..等方法,透過(guò)加速應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、設(shè)計(jì)瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵],以及消除電子或機(jī)械類殘留應(yīng)力,還有消除多層電路板間的雜散電容,將澡盆曲線里面的早夭
GB-電氣、電子元器件、信息技術(shù)〈規(guī)范查詢目錄〉 GB-電氣、電子元器件、信息技術(shù)GB-電氣、電子元器件、信息技術(shù)?號(hào) 名稱?1GB/T 4728.1-1985 電氣簡(jiǎn)圖用圖形符號(hào) 總則 ?2GB/T 4728.2-1998 電氣簡(jiǎn)圖用圖形符號(hào) *2部分:符號(hào) 要素、限定符號(hào)和其它常用符號(hào) ?3GB/T 4728.3-1998 電氣簡(jiǎn)圖用圖形符號(hào) *3部分:
1.冷熱沖擊試驗(yàn)箱的定義本類型試驗(yàn)箱主要適用于考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受較高溫和較低溫環(huán)境急速變化的承受限度,該設(shè)備能夠在Zui短時(shí)間內(nèi)了解樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度范圍、高溫到低溫的轉(zhuǎn)換時(shí)間、溫度恢復(fù)時(shí)間等。2.設(shè)備的選擇兩箱提籃式溫度沖擊試驗(yàn)箱:由底部低溫區(qū),**部高溫區(qū)組成機(jī)身。測(cè)試品放在提籃里,檢測(cè)過(guò)程中提籃上升或下降,使得檢測(cè)品在
是試驗(yàn)設(shè)備里常見(jiàn)的一種,我們常用來(lái)進(jìn)行各種試驗(yàn)品的試驗(yàn)工作,因?yàn)樾枰鞣N極限溫度的測(cè)試,試驗(yàn)品很*出現(xiàn)污質(zhì)物的脫落,然后在試驗(yàn)箱內(nèi)部積聚成污垢附著在內(nèi)部,會(huì)影響其他試驗(yàn)品的測(cè)試結(jié)果,所以每次試驗(yàn)完畢以后要及時(shí)進(jìn)行清理。首先在試驗(yàn)完畢以后,不要立即打開(kāi)交變高低溫濕熱試驗(yàn)箱,靜置1個(gè)小時(shí)等內(nèi)部環(huán)境穩(wěn)定以后,我們帶好防護(hù)手套,然后伸進(jìn)箱體內(nèi),用毛刷輥輕輕的掃下內(nèi)部,把顆粒物都清掃出來(lái)。然后用皮質(zhì)的抹布
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